Neli fiiberoptiliste džemprite kvaliteedi testimismeetodit

Aug 20, 2023 Jäta sõnum

Selleks, et pakkuda klientidele kvaliteetseid fiiberoptilisi džempreid, viivad tootjad projekteerimis- ja tootmisprotsessi käigus läbi mitmeid katseid. Need fiiberoptiliste plaastrijuhtmete testid on igat tüüpi kiudoptilise võrgu jaoks üliolulised. Mitte ainult tarnijad, vaid ka lõppkasutajad peavad mõistma nende fiiberoptiliste džemprite testimist, et paremini hinnata fiiberoptiliste džemprite kvaliteeti ja tagada nende rakenduste teostatavus. Selles artiklis tutvustatakse nelja tüüpi testimist: 3D-testimine, sisestuskao (IL) testimine, tagastamiskao (RL) testimine ja otsapinna testimine. Tavaliselt need neli testi läbinud kiudoptilised plaastrijuhtmed on suurepärase kvaliteediga ja lõppkasutajad saavad neid kindlalt kasutada.

3D-testimine: kvaliteetse pistiku otsapinna garantii

3D-testimine on kiudoptiliste pistikute toimivuse tagamiseks peamine test. Kiudoptiliste hüppaja komponentide tootmisel kasutavad tarnijad fiiberoptilise pistiku otsapinna kontrollimiseks 3D-interferomeetrit (optilise interferomeetria mõõteriista) ja kontrollivad rangelt pistiku otsapinna suurust. 3D-testimine mõõdab peamiselt kõverusraadiust, tipunihet ja kiu kõrgust. Üksikasjad on järgmised:

Kumerusraadius

Kumerusraadius viitab raadiusele südamiku teljest otspinnani, nagu on näidatud alloleval joonisel, mis on ümbrise otspinna kõverusraadius. Kvaliteetsete fiiberoptiliste hüppajapistikute otspinna kõverusraadiust tuleks reguleerida teatud vahemikus. Kui kõverusraadius on liiga väike, avaldab see optilisele kiule märkimisväärset survet, samas kui kõverusraadius on liiga suur, ei saa see optilisele kiule survet avaldada, mille tulemuseks on õhupilu (st õhupilu) pistiku ja optilise kiu otspinna vahel. Olenemata sellest, kas kõverusraadius on liiga suur või liiga väike, võib see põhjustada ebapiisava valguse hajumise või füüsilise kontakti, mis ei saa tagada optimaalset ülekandejõudlust. Ainult sobiv kõverusraadius tagab õige rõhu rakendamise ja optimaalse jõuülekande.

Tipu nihe

Tipunihe viitab kaugusele poleeritud sisetüki otsapinna kõvera kõrgeimast punktist kiudoptilise südamiku teljeni. See on poleerimisprotsessi võtmeelement ja ebatäpne poleerimine võib viia tipunihkeni.

Tehnilistes standardites nõutakse üldiselt, et fiiberoptiliste džemprite tipunihe oleks väiksem või võrdne 50 μM. Kui ülemine nihe on suur, tekib õhupilu, mille tulemuseks on suur sisestuskadu (IL) ja tagasitulek. fiiberoptilise hüppaja kadu (RL). Ideaalses olukorras on PC ja UPC fiiberoptiliste pistikute tipunihe peaaegu null, kuna need joondavad ümbrise otsapinna poleeritud pinnaga risti ja tipp langeb poleerimisprotsessi ajal kokku kiu südamiku teljega. Kuid APC tüüpi fiiberoptiliste pistikute puhul on nende otspinnad kiu telje suhtes 8-kraadise nurga all ega ole täiesti risti.

Kiu kõrgus

Optilise kiu kõrgus on kaugus optilise kiu otspinnast sisestussüdamiku ristlõikeni, mis on pikenduskõrgus kiusüdamikust ümbrise otspinnani. Samamoodi ei tohiks optilise kiu kõrgus olla liiga madal ega liiga kõrge. Kui optilise kiu kõrgus on liiga kõrge, suurendab see kahe optilise kiu pistiku dokkimisel rõhku kiu sees, kahjustades sellega kiudu; Kui optilise kiu kõrgus on liiga madal, tekivad kahe optilise kiu pistiku dokkimisel lüngad, mis suurendab sisestuskadu. Seda tuleb vältida edastamisel, mille sisestuskao nõuded on ranged.